Texas Instruments SN74BCT8373ANT
- SN74BCT8373ANT
- Texas Instruments
- IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP
- Logic - Specialty Logic
- SN74BCT8373ANT Datenblatt
- 24-DIP (0.300\", 7.62mm)
- Tube
-
Lead free / RoHS Compliant
- 3078
- Spot-Inventar/autorisierte Händler/Werksüberschuss-Inventar
- 1-Jahres-Qualitätssicherung 》
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Teilenummer SN74BCT8373ANT |
Kategorie Logic - Specialty Logic |
Hersteller Texas Instruments |
Beschreibung IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP |
Paket Tube |
Serie 74BCT |
Betriebstemperatur 0°C ~ 70°C |
Montageart Through Hole |
Paket/Koffer 24-DIP (0.300\", 7.62mm) |
Gerätepaket des Lieferanten 24-PDIP |
Anzahl der Bits 8 |
Versorgungsspannung 4.5V ~ 5.5V |
Logiktyp Scan Test Device with D-Type Latches |
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Bemerkungen
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In 1930, Texas Instruments was founded in Dallas, Texas, USA. The company's products mainly include high-performance analog chips, digital signal processors, microcontrollers, and various connection and power management...

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